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深圳市易捷测试技术有限公司
主营：Maury矢网校准件,失效分析,组装,负载牵引系统,探针台MPI,射频探针,全自动探针台,半自动探针台,材料电姓能测试,ESD及近场电磁测试 - 18127076420
深圳市易捷测试技术有限公司
主营：Maury矢网校准件,失效分析,组装,负载牵引系统,探针台MPI,射频探针,全自动探针台,半自动探针台,材料电姓能测试,ESD及近场电磁测试
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HANWA HED-C5000R CDM测试设备
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的较终生产过程中的质量保证都是的。
1）满足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC等**CDM模型测试规范
2）测试电压较高可达4KV，为同类型机台较高
3）供应商为JS-002规格制定**成员，技术可靠
4）硬件软件的使用操作简单，容易上手，为**半导体Leading company的推荐使用机型
5）一具有D-AEC充放电功能的CDM测试机台